光學(xué)形貌儀可以用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，表面形貌儀具有測量晶圓翹曲度的功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應(yīng)變測量以及表面形貌測量。

 

　　應(yīng)用領(lǐng)域：

　　1、用于太陽能電池測量；

　　2、用于半導(dǎo)體晶圓測量；

　　3、用于機械部件的計量；

　　4、用于鍍膜玻璃的平整度（Flatness）測量；

　　5、用于塑料，金屬和其他復(fù)合型材料工件的測量。

 

　　產(chǎn)品特色：

　　1、除了表面形貌的測量，還可以測量張量和應(yīng)力（簡單）；

　　2、可測量晶圓的尺寸為0.5''到12'', 可達45x45cm的尺寸，對于小于0.5''的晶圓或樣品，可配備微距鏡頭。

　　3、測量晶圓或其他樣品的表面形貌,粗糙度和翹曲度；

　　4、克服常見干涉儀在粗糙表面（油漆）表現(xiàn)不足的問題；

　　5、非接觸式測量。

 

　　光學(xué)形貌儀使用特點說明：

　　1、光學(xué)形貌儀測量材料能夠使材料不被損壞，具有非破壞性。能夠同時測量多種材料，不僅方便快捷，還能保證測量的準確度，大大節(jié)省了工作人員的時間，具有很高的效率性和便利性。

　　2、測量范圍廣，應(yīng)用性強。不管是各種金屬、塑料、玻璃、紙、木頭，還是皮膚、牙齒、頭發(fā)以及各種材料，形貌儀都可以測量。

　　3、采用白光共聚焦色差技術(shù)，分辨率*。與此同時，本產(chǎn)品在測量材料是能夠不受樣品反射率和周圍環(huán)境光的影響。

　　4、測量范圍大，可高達27毫米。儀器上手快，操作十分簡單，測量的樣品無需進行任何處理方可進行測量。